質(zhì)量，精度和創(chuàng)新是惟德測(cè)量技術(shù)有限公司60多年成功發(fā)展的基石。
公司總部位于吉森市，該城市坐落于一個(gè)長(zhǎng)期致力于精密光學(xué)機(jī)械制造的地區(qū)。1955年，*臺(tái)以人體工程學(xué)和度為基準(zhǔn)的斜面輪廓投影儀問世。從20世紀(jì)60年代到80年代，WERTH公司以輪廓投影儀為基礎(chǔ)，結(jié)合光緣傳感器和數(shù)字測(cè)距儀，研發(fā)出了光學(xué)數(shù)控三座標(biāo)測(cè)量?jī)x。在1987年，*臺(tái)被命名為“Inspector®”的復(fù)合式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)問世，該機(jī)配備了圖像處理傳感器和集成的激光測(cè)距傳感器。在20世紀(jì)90年代，通過“VideoCheck®”生產(chǎn)線的引入，WERTH公司成為數(shù)字圖像處理技術(shù)推廣的者。早期的用于機(jī)器控制的計(jì)算機(jī)技術(shù)和嚴(yán)格的模塊化理念實(shí)現(xiàn)了高性能，價(jià)格適中。
如今，除了圖像處理技術(shù)，WERTH公司又研發(fā)出了更多的光學(xué)傳感器，如“3D-Patch”，“Werth 激光探測(cè)器”， “色彩聚焦探測(cè)器”， “納米聚焦探測(cè)器” 和 “Werth 干涉儀探測(cè)器”。傳統(tǒng)的用于單點(diǎn)的測(cè)量或掃描的觸覺傳感器，獲得的“Werth 輪廓探測(cè)器”和三維微探測(cè)器“Werth 光纖探測(cè)器”的應(yīng)用擴(kuò)大了測(cè)量?jī)x器的應(yīng)用范圍。制造的測(cè)量設(shè)備的范圍從產(chǎn)品控制檢測(cè)儀延伸到測(cè)量誤差在幾十納米內(nèi)的高精度的多傳感器測(cè)量?jī)x。為了提高測(cè)量速度，采用了線性驅(qū)動(dòng)器和“On-The-Fly”技術(shù)。
2005年，WERTH公司推出了*臺(tái)專門為坐標(biāo)測(cè)量開發(fā)的X射線電腦斷層掃描坐標(biāo)測(cè)量?jī)x“TomoScope®”。它使快速完整地測(cè)量三維工件成為可能。通過創(chuàng)新的解決方案，使得斷層掃描技術(shù)的度被提升到了坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的水平。斷層掃描所需要的所有功能都被整合到了通用軟件“WinWerth®”中，在確保了測(cè)量結(jié)果可靠的同時(shí)，使得操作簡(jiǎn)單化。
超過1萬臺(tái)WERTH公司生產(chǎn)的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x被不同的工業(yè)部門安裝使用。應(yīng)用領(lǐng)域包括：航空航天，汽車制造，電子工業(yè)，珠寶制作，工具制造，塑料注塑，醫(yī)療技術(shù)，渦輪機(jī)制造，鋁及塑料擠壓成型。在光學(xué)傳感器，多傳感器的應(yīng)用和X射線電腦斷層掃描技術(shù)，以及三維特征的測(cè)量方面，WERTH公司目前處于世界。憑借多項(xiàng)世界*和設(shè)備及傳感器，WERTH公司成為了在這一市場(chǎng)層面的技術(shù)者。通過由DIN EN ISO 9001認(rèn)證的質(zhì)量管理系統(tǒng)和在德國DAkkS（DKD）認(rèn)證的長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)傳遞實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的由DIN ISO 17025認(rèn)證的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的校準(zhǔn)，確保了其設(shè)備產(chǎn)品的可靠性和性。2013年7月，德國DAkkS（DKD）認(rèn)證的長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)傳遞實(shí)驗(yàn)室任命了WERTH測(cè)量技術(shù)有限公司為*家有資格對(duì)裝有X射線斷層掃描技術(shù)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)進(jìn)行校準(zhǔn)的公司。
超過近20年的兩位數(shù)的年增長(zhǎng)，公司創(chuàng)建了一個(gè)積極進(jìn)取的團(tuán)隊(duì)。有200多名員工分布在德國的銷售和售后服務(wù)點(diǎn)和各個(gè)重要的工業(yè)國家，確保了WERTH公司在將來能夠提供先進(jìn)的zui高品質(zhì)的裝有光學(xué)傳感器，多傳感器和X射線電腦斷層掃描技術(shù)的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x以及的售后服務(wù)。
Werth產(chǎn)品系列
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| 復(fù)合式光學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) | X射線斷層掃描坐標(biāo)測(cè)量機(jī) | |
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| 刀具測(cè)量機(jī) | 光學(xué)軸類測(cè)量機(jī) |
WERTH光學(xué)三坐標(biāo) | WERTH電腦斷層坐標(biāo)測(cè)量機(jī) | WERTH光學(xué)軸類測(cè)量機(jī) | WERTH 刀具測(cè)量機(jī)